顆粒電位滴定及粒度分析儀

產品型號： Stabino II

所屬分類：分析儀

產品時間：2023-10-28

簡要描述：顆粒電位滴定及粒度分析儀
通過使用stabino，可實現(xiàn)快速便捷的顆粒的電位滴定測試。
分散體中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因，故帶電粒子界面的表征是必
的。當顆粒離子化后，總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數(shù)。

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顆粒電位滴定及粒度分析儀

通過使用stabino II，可實現(xiàn)快速便捷的顆粒的電位滴定測試。在分散體系中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因，故帶電粒子界面的表征是的。當顆粒離子化后，總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數(shù)。電荷測量是通過建立動電信號來完成的。

根據(jù)不同的測量原理，有電泳法，電聲法zeta電位，以及stabino測試所得的流動電位。這些是經常被提到的電位參數(shù)，來源于作用在顆粒界面雙電層上離子云的剪切力，如圖1。所有這些被測變量都與位于剪切面的顆粒界面電位（PIP）即zeta電位成正比關系。為了建立界面電位，要么通過電泳法或電聲法建立的電場，要么通過機械應力作用于流動電位和電聲法儀器。通過這樣做，來源于溶液中的外部松散附著的離子被帶走，顯露出可被直接測量的界面電位。

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